仪器简介封面
| 场发射透射电子显微镜 联系人：陶圆圆 地址：千佛山校区山东省分析测试中心1号楼1层高分辨影像室 电话：13969092379 |
一、仪器名称
中文名称：场发射透射电子显微镜
英文名称：Field Emission Transmission Electron Microscope
二、型号：FEI Talos F200S
三、生产厂家：美国Thermo Fisher Scientific (FEI)
四、仪器简介：
FEI Talos F200S高分辨透射电子显微镜是一台高分辨分析型透射电镜，融合了出色的高分辨率STEM和TEM成像功能与行业领先的能谱仪（EDS）。可在实现快速、精确的EDS分析，以及最好且支持快速导航的高分辨HRTEM成像。与此同时，还提供最高的稳定性和最长的正常运行时间，配备了多种创新功能以提高效率、精度和易用性。
五、仪器主要特点及技术指标：
1．分辨率：
STEM HAADF 分辨率优于0.16 nm@200 kV；
TEM 信息分辨率优于0.12 nm@200 kV；
2. 放大倍率：
200-1,000,000
;
3. 电子枪：
肖特基热场发射电子枪；
4. 加速电压:
80 kV, 200 kV；
5. 探针电流：
总束电流>150 nA，探针电流0.6 nA@1 nm探针(200 kV)；
6. EDS系统：
Super-X EDS detector，2 SDD无窗设计，shutter保护
能量分辨率：≤136 eV，对Mn-Kalpha和10kcps（输出）
快速EDS：像素驻留时间低至10 us；
7. 样品杆及样品台
配备单倾样品杆和低背景双倾杆，样品台倾斜角度（±15oC）
六、仪器主要功能、用途及送样要求：
1. 主要用于无机、有机、生物材料（粉体、液体）低倍形貌，高分辨微结构与微区组成的分析和研究（块状及薄膜结构材料需自行制备测试样品）；
2. 表征范围：颗粒形貌尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等；
3. 成像：透射像（TEM）、高分辨像 (HRTEM)；
4. 微区成分：EDS能谱的点、线和面分析；
5．送样要求：样品无磁（弱磁可具体咨询），样品尺寸符合电镜测试要求。
七、仪器图片
八、应用实例
某课题组制备碳化钛复合纳米金球材料，需要对其微观形貌结构进行观察。我们采用多种模式TEM, HAADF, EDS，针对该样品进行测试分析，结果如下：
HRTEM及HRSTEM iDPC成像
九、存放地点及联系人：
存放地点：千佛山校区山东省分析测试中心1号楼1层高分辨影像室
联系人：陶老师，13969092379